[实用新型]测试系统及其对位治具有效

专利信息
申请号: 201420452079.7 申请日: 2014-08-12
公开(公告)号: CN204008920U 公开(公告)日: 2014-12-10
发明(设计)人: 吕彦志;江庆丰;周镇邦;王年正;陈昱勋;徐志明;吴天文;吕彦宏 申请(专利权)人: 广达电脑股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 施浩
地址: 中国台湾桃园*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种测试系统包含测试机台、第一可插拔接头、第二可插拔接头与对位治具。第二可插拔接头台电性连接受测装置,可插拔地耦接第一可插拔接头。对位治具包含一第一对位模块及一第二对位模块。第一对位模块固持第一可插拔接头。第二对位模块可分离地耦接第一对位模块,用以固持第二可插拔接头。当第一对位模块耦接第二对位模块时,第一可插拔接头恰与第二可插拔接头相互耦接,以致测试机台电性连接受测装置。
搜索关键词: 测试 系统 及其 对位
【主权项】:
一种测试系统,其特征在于,包含:一测试机台;一第一导线组,电性连接该测试机台,具有一第一可插拔接头;一第二导线组,电性连接至少一受测装置,具有一第二可插拔接头,该第二可插拔接头可插拔地耦接该第一可插拔接头;以及一对位治具,包含:一第一对位模块,用以固持该第一可插拔接头;以及一第二对位模块,可分离地耦接该第一对位模块,用以固持该第二可插拔接头,其中,当该第一对位模块耦接该第二对位模块时,该第一可插拔接头恰与该第二可插拔接头相互耦接,以致该测试机台电性连接该至少一受测装置。
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