[实用新型]一种用于物探测量的点触式声波探头有效

专利信息
申请号: 201420481506.4 申请日: 2014-08-25
公开(公告)号: CN204086223U 公开(公告)日: 2015-01-07
发明(设计)人: 艾宝利;刘善军;韩连发;王世学;常伟;赵党军;李泽;林柏余;周剑;宋克民 申请(专利权)人: 中国电建集团北京勘测设计研究院有限公司
主分类号: G01N29/24 分类号: G01N29/24;G01H11/08
代理公司: 天津市鼎和专利商标代理有限公司 12101 代理人: 李凤
地址: 100024 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种用于物探测量的点触式声波探头,包括上下设置的上质量块和下质量块,上质量块的侧面凸出设置有用于与被测物体接触的锥体,上质量块和下质量块之间设置有依次由四个压电陶瓷片与三个电极片相间组成的两个晶振组,电极片上连接有正极引线和负极引线,压电陶瓷片、电极片、上质量块和下质量块之间的接触面涂有用于耦合的硅油,在上质量块和下质量块之间、位于两个晶振组外侧设置有防电磁干扰的一圈金属片,在上质量块、下质量块、晶振组和金属片之间的空隙浇注有单组份硅胶。本实用新型解决不使用耦合剂也能进行声波测试的问题,将面接触改为点接触,提高测试精度,扩大声波测试的范围。对无水的钻孔段进行点触式声波测试;也可对具有较大平面的固体介质进行点触式声波测试。
搜索关键词: 一种 用于 物探 测量 点触式 声波 探头
【主权项】:
一种用于物探测量的点触式声波探头,其特征在于,包括上下设置的上质量块(3)和下质量块(8),上质量块(3)的侧面凸出设置有用于与被测物体接触的锥体(1),上质量块(3)和下质量块(8)之间设置有依次由四个压电陶瓷片(4)与三个电极片(11)相间组成的两个晶振组,电极片(11)上连接有正极引线和负极引线,压电陶瓷片(4)、电极片(11)、上质量块(3)和下质量块(8)之间的接触面涂有用于耦合的硅油,在上质量块(3)和下质量块(8)之间、位于两个晶振组外侧设置有防电磁干扰的一圈金属片(6),在上质量块(3)、下质量块(8)、晶振组和金属片(6)之间的空隙浇注有单组份硅胶(10)。
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