[实用新型]一种芯片引线共面性检测平台有效
| 申请号： | 201420529259.0 | 申请日： | 2014-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN204142203U | 公开（公告）日： | 2015-02-04 |
| 发明（设计）人： | 陈小俊;傅宇航;苏艳铃;常蕊娜 | 申请（专利权）人： | 北京航天光华电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30;G01B5/28 |
| 代理公司： | 北京市中闻律师事务所 11388 | 代理人： | 王新发;常亚春 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型实施例提出一种芯片引线共面性检测平台，包括基座、量块、镜子；其中所述基座包括一沿竖直方向延伸的竖直部，且所述竖直部的顶部设有水平部；其中所述竖直部与水平部之间形成的内角位置设有倾斜的镜子；且所述镜子下方设有可拆卸的嵌入到所述竖直部内的量块。上述方案提出了一种结构简单成本低的芯片引线共面性检测平台。检测时，将基座平整放置在工作台上，再将进行引线成形后的芯片紧贴放在量块后；眼睛目视方向与基座的垂直部垂直。由于镜子是与垂直部成45度角；如果能看到量块后有露出的芯片引线，即说明芯片引线的共面性超出了量块所限定的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 引线 共面性 检测 平台 | ||
【主权项】：
一种芯片引线共面性检测平台，其特征在于，包括基座、量块、镜子；其中所述基座包括一沿竖直方向延伸的竖直部，且所述竖直部的顶部设有水平部；其中所述竖直部与水平部之间形成的内角位置设有倾斜的镜子；且所述镜子下方设有可拆卸的嵌入到所述竖直部内的量块。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航天光华电子技术有限公司，未经北京航天光华电子技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201420529259.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种椭圆体体积测量装置
- 下一篇：汽车接近角与离去角自动测量装置
