[实用新型]一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列有效

专利信息
申请号: 201420536276.7 申请日: 2014-09-17
公开(公告)号: CN204086559U 公开(公告)日: 2015-01-07
发明(设计)人: 阴泽杰;蒋春雨;曹靖;杨青巍 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: G01T1/36 分类号: G01T1/36;G01T1/40
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 成金玉;孟卜娟
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列,由不同长度的吸收体构成,所述不同长度的吸收体的设计原则为等能量间隔衰减原则,即当入射的X射线能量在被测能量范围内是均匀分布时,经过吸收体阵列衰减后,出射的X射线的能量衰减是等间隔的。本实用新型的优点是数据之间彼此离散,串扰减小,解谱精度提高。
搜索关键词: 一种 用于 测量 通量 射线 吸收体 阵列
【主权项】:
一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列,其特征在于:所述吸收体阵列由一系列圆柱形的不同长度的吸收体构成一个阵列,圆柱形的不同长度的吸收体的轴平行排列;所述不同长度的吸收体的设计原则为等能量间隔衰减原则,即当入射的X射线能量在被测能量范围内是均匀分布时,经过吸收体阵列衰减后,出射的X射线的能量衰减是等间隔的。
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