[实用新型]用于D-Dimer检测的光学检测装置有效

专利信息
申请号: 201420551998.X 申请日: 2014-09-24
公开(公告)号: CN204154630U 公开(公告)日: 2015-02-11
发明(设计)人: 刘康;刘赏 申请(专利权)人: 西安瑞日电子发展有限公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/27
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 罗笛
地址: 710075 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型公开的用于D-Dimer检测的光学检测装置,包括单波长LED光源、反应杯以及第一光电检测模块,单波长LED光源和反应杯之间设置有滤光片,第一光电检测模块依次连接有A/D采集模块和控制器,控制器和反应杯之间通过温度采集模块和温度调节模块相连,滤光片的折射光路上设置有第二光电检测模块,第二光电检测模块与恒流供电模块相连,第二光电检测模块与A/D采集模块相连,控制器和恒流供电模块相连。本实用新型的用于D-Dimer检测的光学检测装置解决了现有的检测装置由于光源发光受热使得光强和温度变化对测量结果影响大的缺点。其使用单波长LED光源降低成本;增加监测电路提高测量精度;还通过温度控制保证试剂的恒温检测,降低了温度对测试结果的影响。
搜索关键词: 用于 dimer 检测 光学 装置
【主权项】:
用于D‑Dimer检测的光学检测装置,其特征在于,包括通过光路依次连接的单波长LED光源(1)、反应杯(3)以及第一光电检测模块(4),单波长LED光源(1)和反应杯(3)之间的光路上还设置有滤光片(2),所述第一光电检测模块(4)还依次连接有A/D采集模块(5)和控制器(8),控制器(8)和反应杯(3)之间还分别通过温度采集模块(10)和温度调节模块(9)相连,所述滤光片(2)的折射光路上设置有第二光电检测模块(6),所述第二光电检测模块(6)还连接有为单波长LED光源(1)提供电能的恒流供电模块(7),第二光电检测模块(6)还与A/D采集模块(5)相连,所述控制器(8)和恒流供电模块(7)相连。
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