[实用新型]一种测量乳腺钼靶X射线多参数的传感器阵列有效

专利信息
申请号: 201420556422.2 申请日: 2014-09-25
公开(公告)号: CN204133486U 公开(公告)日: 2015-02-04
发明(设计)人: 杨建;杨勇;郑永明;龚岚 申请(专利权)人: 中测测试科技有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 成都信博专利代理有限责任公司 51200 代理人: 邓金涛
地址: 610056 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型涉及X射线参数测量仪,具体涉及一种测量乳腺钼靶X射线多参数的传感器阵列,包括电路板(1)和过滤盖(2),在电路板(1)上设有由三个SI-PIN二极管组成的探测器阵列(3),在所述三个SI-PIN二极管的表面加有稀土层,所述过滤盖(2)上位置与电路板(1)上探测器阵列相适应处设有三个过滤孔(4),所述三个过滤孔(4)的厚度相互不等,所述电路板(1)上有三个SI-PIN的信号引出端口。本实用新型解决现有技术中针对乳腺钼靶X射线装置无法通过一次曝光测量管电压、半值层、剂量和曝光时间的问题,且本实用新型的测量方法操作简单,准确度高,安全性好,以及测量成本低。
搜索关键词: 一种 测量 乳腺 射线 参数 传感器 阵列
【主权项】:
一种测量乳腺钼靶X射线多参数的传感器阵列,其特征在于:包括电路板(1)和过滤盖(2),在电路板(1)上设有由三个SI‑PIN二极管组成的探测器阵列(3),在所述三个SI‑PIN二极管的表面加有稀土层,所述过滤盖(2)上位置与电路板(1)上探测器阵列相适应处设有三个过滤孔(4),所述三个过滤孔(4)的厚度相互不等,所述电路板(1)上有三个SI‑PIN的信号引出端口。
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