[实用新型]一种非挥发性SRAM存储单元电路有效
申请号: | 201420677020.8 | 申请日: | 2014-11-13 |
公开(公告)号: | CN204332377U | 公开(公告)日: | 2015-05-13 |
发明(设计)人: | 汪金辉;王丽娜;吕贵涛;侯立刚;宫娜 | 申请(专利权)人: | 无锡星融恒通科技有限公司;北京工业大学 |
主分类号: | G11C11/413 | 分类号: | G11C11/413 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 殷红梅 |
地址: | 214101 江苏省无锡市锡山*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型提供一种非挥发性SRAM存储单元电路,该电路具有数据存储位置Q点,其特征在于:还增加了一个辅助电路,用于数据存储位置Q点的数据的断电休眠记忆与上电恢复。所述的非挥发性SRAM存储单元电路具体包括:PMOS晶体管M1、M2、M10、C1、C2;NMOS晶体管M3、M4、M5、M6、M7、M8、M9、M11。M9、M10源极连接Q点,漏极连接C1、C2栅极及M11漏极,M9栅极连接信号WAK,M10栅极连接信号C1源极、漏极、衬底连接信号SLP;C2源极、漏极、衬底连接地;M11栅极连接点,源极连接地。该电路有效地节省了待机状态下的能量损失。 | ||
搜索关键词: | 一种 挥发性 sram 存储 单元 电路 | ||
【主权项】:
一种非挥发性SRAM存储单元电路,该电路具有数据存储位置Q点,其特征在于:还增加了一个辅助电路,用于数据存储位置Q点的数据的断电休眠记忆与上电恢复;所述的非挥发性SRAM存储单元电路,具体包括:PMOS晶体管M1、M2、M10、C1、C2;NMOS晶体管M3、M4、M5、M6、M7、M8、M9、M11;M1、M2源极连接电源VDD,漏极分别连接M3、M4的漏极,M1栅极连接M3栅极称为,M2栅极连接M4栅极称为Q;M3源极连接M4的源极连接地;M1漏极和M3漏极接Q点;M2漏极和M4漏极接点;M5源极连接写位线WBLB,漏极连接点,栅极连接写字线WWL;M6源极连接写位线WBL,漏极连接Q点,栅极连接写字线WWL;M7漏极连接读位线RBL,栅极连接读字线RWL,源极连接M8漏极;M8源极连接地,栅极连接Q点;M9、M10源极连接Q点,漏极连接C1、C2栅极及M11漏极,M9栅极连接信号WAK,M10栅极连接信号;C1源极、漏极、衬底连接信号SLP;C2源极、漏极、衬底连接地;M11栅极连接点,源极连接地;其中,M9、M10、M11、C1和C2构成了用于数据存储位置Q点的数据的断电休眠记忆与上电恢复的辅助电路。
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