[实用新型]一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具有效
| 申请号： | 201420705795.1 | 申请日： | 2014-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN204214709U | 公开（公告）日： | 2015-03-18 |
| 发明（设计）人： | 蒋超;彭家斌 | 申请（专利权）人： | 江苏博迁新材料有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28 |
| 代理公司： | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人： | 汪旭东 |
| 地址： | 223801 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具，包括金属柱，在金属柱上部设有圆台形孔，圆台形孔上面为进样口，圆台形孔下面为出样口。使用此工具将样品转移到电子扫描显微镜样品台上，可使样品落在较小的范围内，方便通过电子扫描显微镜观察样品的形貌和数量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 纳米 金属粉末 sem 测试 辅助 工具 | ||
【主权项】：
一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具，其特征在于：所述工具包括金属柱，在金属柱上部设有圆台形孔，圆台形孔上面为进样口，圆台形孔下面为出样口；所述金属柱下部设有圆形孔，所述圆台形孔下部通至圆形孔上部，圆台形孔与圆形孔组合成一通孔。
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