[实用新型]一种晶体硅太阳电池减反膜结构有效

专利信息
申请号: 201420733838.7 申请日: 2014-11-27
公开(公告)号: CN204230254U 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 王立建 申请(专利权)人: 浙江昱辉阳光能源江苏有限公司
主分类号: H01L31/0216 分类号: H01L31/0216
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 任立
地址: 214203 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种晶体硅太阳电池减反膜结构,包括硅衬底, 在硅衬底上端面设有介质层,介质层包括由下向上分别为SiO2介质层、SiN介质层和SiON介质层;在硅衬底下表面附着Al背场,Al背场边界与硅衬底边缘距离为1.5-3.1nm;在介质层上方分布有电极,电极的两端与介质层边缘的距离分别为2.8-4.3nm,介质层上设有浮法超白玻璃盖板,浮法超白玻璃盖板覆盖在电极和介质层上表面;本实用新型不仅结构简单,制造成本低,使用寿命长,而且使得硅片在镀膜后既得到低反射率的膜层,对金属离子有很好的屏蔽作用,又能达到抗PID的效果,提高了太阳电池的转换效率,工作稳定,增加了该设备的使用寿命,降低成本。
搜索关键词: 一种 晶体 太阳电池 膜结构
【主权项】:
一种晶体硅太阳电池减反膜结构,包括硅衬底(5), 其特征在于:在所述硅衬底(5)上端面设有介质层,所述介质层包括由下向上分别为SiO2介质层(4)、SiN介质层(3)和SiON介质层(2);在所述硅衬底(5)下表面附着Al背场(6),所述Al背场边界与硅衬底(5)边缘距离为1.5‑3.1nm;在介质层上方分布有电极(1),所述电极(1)的两端与介质层边缘的距离分别为2.8‑4.3nm,所述介质层上设有浮法超白玻璃盖板(7),所述浮法超白玻璃盖板(7)覆盖在电极(1)和介质层上表面。
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