[实用新型]一种LED芯片检测分析系统有效
申请号: | 201420734451.3 | 申请日: | 2014-11-27 |
公开(公告)号: | CN204228934U | 公开(公告)日: | 2015-03-25 |
发明(设计)人: | 董宁;李波;刘攀超 | 申请(专利权)人: | 深圳市华测检测技术股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/44 | 分类号: | G01R31/44;G01R31/26;G01M11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518101 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种LED芯片检测分析系统,其特征在于,该系统包括印刷电路板、样品台、多个电极、连接插头、电学检测单元、光学检测单元和点连接装置:所述样品台设置于所述印刷电路板的中心,用于安装LED芯片;所述多个电极设置于印刷电路板的周围;所述连接插头与所述多个电极电连接;所述电学检测单元包括电压表、电流源、开关矩阵和输出插头,所述电压表、电流源通过开关矩阵与输出插头电连接,开关矩阵转换输出插头中各个针脚的电连接;所述点连接装置包括点焊机和金属导线,所述点焊机用于将金属导线的两端分别与电极和LED芯片连接。该系统是一种直接对LED芯片进行测试的检测系统。 | ||
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【主权项】:
一种LED芯片检测分析系统,其特征在于,该系统包括印刷电路板、样品台、多个电极、连接插头、电学检测单元、光学检测单元、温度传感器和点连接装置:所述样品台设置于所述印刷电路板的中心,用于安装LED芯片;所述多个电极设置于印刷电路板的周围;所述连接插头与所述多个电极电连接;所述电学检测单元包括电压表、电流源、开关矩阵和输出插头,所述电压表、电流源通过开关矩阵与输出插头电连接,开关矩阵转换输出插头中各个针脚的电连接;所述点连接装置包括点焊机和金属导线,所述点焊机用于将金属导线的两端分别与电极和LED芯片连接。
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