[实用新型]用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置有效
| 申请号： | 201420755137.3 | 申请日： | 2014-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN204202847U | 公开（公告）日： | 2015-03-11 |
| 发明（设计）人： | 刘勇;李东;杨一;刘旭;姜宏振;郑芳兰;陈波 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 | 代理人： | 杨保刚;赵宇 |
| 地址： | 621900*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，属于专用夹具技术领域中的光学元件调节夹持装置，其目的在于提供一种用于光束取样光栅取样参数测量的光学元件精密调节夹持装置，同时实现对光学元件的位置调节精度达到亚毫米量级精度以及元件装夹的安全稳固。其技术方案为：包括夹具框架，夹具框架中部开设有通光孔，夹具框架的侧面上均布有若干固定旋钮，部分固定旋钮上设有螺旋千分尺，夹具框架顶面均布有若干用于压紧光学元件的固定旋杆。本实用新型适用于光束取样光栅的取样参数测量。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光束 取样 光栅 参数 测量 调节 夹持 装置 | ||
【主权项】：
一种用于光束取样光栅取样参数测量的调节夹持装置，包括夹具框架（14），其特征在于：所述夹具框架（14）中部开设有通光孔（15），所述夹具框架（14）的侧面上均布有若干固定旋钮（6、7、8、9），部分固定旋钮（6、7、8、9）上设有螺旋千分尺（2、3、4、5），所述夹具框架（14）顶面均布有若干用于压紧光学元件（16）的固定旋杆（10、11、12、13）。
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