[实用新型]用于磁头驱动臂组件的综合测量仪有效
申请号: | 201420819064.X | 申请日: | 2014-12-19 |
公开(公告)号: | CN204270653U | 公开(公告)日: | 2015-04-15 |
发明(设计)人: | 朱灿强;李艳;胡小玲;孟田力;刘志安;徐红英 | 申请(专利权)人: | 深圳长城开发科技股份有限公司 |
主分类号: | G11B5/455 | 分类号: | G11B5/455;G11B5/127 |
代理公司: | 深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司 44232 | 代理人: | 刘抗美;刘耿 |
地址: | 518031 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种用于磁头驱动臂组件的综合测量仪,其包括激光测量单元、调整单元、光学检测装置及音圈电测电路,激光测量单元用于测量磁头驱动臂组件的磁头臂臂高、弯曲度及绕度;调整单元用于对磁头臂臂高不合格的磁头驱动臂组件的磁头臂臂高进行调整;光学检测装置用于对磁头驱动臂组件的磁头臂冲孔尺寸、磁头焊点对位及磁头连接器插针进行光学检测;以及音圈电测电路用于测量磁头驱动臂组件的电参数及机械参数。本实用新型的综合测量仪不仅功能众多,能够快速响应磁头新产品的测试更新升级,有利于生产线的维护,提高了生产效率,而且节省了工作人员数量,降低了生产成本。 | ||
搜索关键词: | 用于 磁头 驱动 组件 综合 测量仪 | ||
【主权项】:
一种用于磁头驱动臂组件的综合测量仪,其特征在于,包括:激光测量单元,用于测量磁头驱动臂组件的磁头臂臂高、弯曲度及绕度;调整单元,用于对磁头臂臂高不合格的磁头驱动臂组件的磁头臂臂高进行调整;光学检测装置,用于对磁头驱动臂组件的磁头臂冲孔尺寸、磁头焊点对位及磁头连接器插针进行光学检测;以及音圈电测电路,用于测量磁头驱动臂组件的电参数及机械参数。
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