[实用新型]纳米成像系统有效

专利信息
申请号: 201420822011.3 申请日: 2014-12-22
公开(公告)号: CN204287080U 公开(公告)日: 2015-04-22
发明(设计)人: 孙天希;孙学鹏;刘志国;须颖;董友 申请(专利权)人: 北京师范大学;天津三英精密仪器有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G03B42/02
代理公司: 北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 代理人: 苗源;李冬梅
地址: 100875 北京市海淀区新街*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种纳米成像系统,该纳米成像系统包括:X射线光源;毛细管X光透镜,其入口焦距处设置X射线光源,用于收集并会聚X射线光源发出的X射线束,毛细管X光透镜的出口焦距处形成微焦斑;弯晶聚焦器,其入口焦斑与毛细管X光透镜的微焦斑位置重合形成共聚焦结构,并在出口焦斑形成单色微焦斑;弯晶聚焦器的出口焦斑处放置有样品;放大器,设置于样品之后的光路上,用于会聚并放大样品的成像信号;探测器,设置在放大器之后,用于探测并收集样品的成像信号。因此,实施本实用新型能够实现高效纳米成像的同时降低设备成本,并提升设备的功能和寿命。
搜索关键词: 纳米 成像 系统
【主权项】:
一种纳米成像系统,其特征在于,包括:X射线光源(1);毛细管X光透镜(3),其入口焦距处设置所述X射线光源(1),用于收集并会聚所述X射线光源(1)发出的X射线束(2),所述毛细管X光透镜(3)的出口焦距处形成微焦斑(4);弯晶聚焦器(6),其入口焦斑与所述毛细管X光透镜(3)的微焦斑(4)位置重合形成共聚焦结构,并在出口焦斑处形成单色微焦斑(7);所述弯晶聚焦器(6)的出口焦斑处放置有样品;所述弯晶聚焦器(6)的入口端或出口端处配置有调节器(5),用于挡住入射或出射于所述弯晶聚焦器(6)的中间部分X射线;放大器(8),设置于所述样品之后的光路上,用于会聚并放大所述样品的成像信号;探测器(9),设置在所述放大器(8)之后,用于探测并收集所述样品的成像信号。
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