[实用新型]PCB板测试装置及其测试探针有效
| 申请号： | 201420836636.5 | 申请日： | 2014-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN204347079U | 公开（公告）日： | 2015-05-20 |
| 发明（设计）人： | 殷方胜 | 申请（专利权）人： | 泰和电路科技（惠州）有限公司;惠州泰科立集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 邓云鹏 |
| 地址： | 516006 广东省惠州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种测试探针，包括探针主体部、探头、通孔针及测试触点；所述探头设置于所述探针主体部的一端；通孔针用于去除被测PCB板的孔内堵塞物，所述通孔针的一端设置于所述探头上；所述测试触点设于所述通孔针的外侧，且所述测试触点与所述探头相连接。同时还提供了一种使用上述测试探针的PCB板测试装置；上述PCB板测试装置及其测试探针，通过在探头上加装通孔针，能够在对被测PCB板进行测试时，对被测PCB板上的孔进行疏通，防止被测PCB板上的孔堵塞，进而简化了PCB板的测试工艺，提高生产效率，缩短了PCB板的制作时间，节省了人力物力。 | ||
| 搜索关键词： | pcb 测试 装置 及其 探针 | ||
【主权项】：
一种测试探针，其特征在于，包括：探针主体部；探头，设置于所述探针主体部的一端；用于去除被测PCB板的孔内堵塞物的通孔针，所述通孔针的一端设置于所述探头上；及测试触点，设于所述通孔针的外侧，且所述测试触点与所述探头相连接。
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