[实用新型]无图像拖尾的CMOS图像传感器像素结构有效
申请号: | 201420854026.8 | 申请日: | 2014-12-29 |
公开(公告)号: | CN204289451U | 公开(公告)日: | 2015-04-22 |
发明(设计)人: | 郭同辉;旷章曲 | 申请(专利权)人: | 北京思比科微电子技术股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 郑立明;赵镇勇 |
地址: | 100085 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种无图像拖尾的CMOS图像传感器像素结构,包括置于半导体基体中的光电二极管、电荷传输晶体管、漂浮有源区,还包括第一P型离子区、第二P型离子区、N型离子区;第一P型离子区和N型离子区位于电荷传输晶体管的沟道区,两者相互接触,并且第一P型离子区在靠近光电二极管的一侧与光电二极管上部的Pin型P+层接触,N型离子区在靠近漂浮有源区的一侧与漂浮有源区的N+区接触;第二P型离子区位于N型离子区和漂浮有源区的底部;光电二极管在电荷传输晶体管沟道处的边界为第一P型离子区与所述N型离子区的接触处。配合像素中的电荷传输晶体管栅极控制方法,进行光电电荷转移操作时,电荷传输晶体管沟道与光电二极管之间无势垒和势谷,不会产生图像拖尾现象。 | ||
搜索关键词: | 图像 cmos 图像传感器 像素 结构 | ||
【主权项】:
一种无图像拖尾的CMOS图像传感器像素结构,包括置于半导体基体中的光电二极管、电荷传输晶体管、漂浮有源区,其特征在于,还包括第一P型离子区、第二P型离子区、N型离子区;所述第一P型离子区和N型离子区位于所述电荷传输晶体管的沟道区,两者相互接触,并且所述第一P型离子区在靠近所述光电二极管的一侧与光电二极管上部的Pin型P+层接触,所述N型离子区在靠近所述漂浮有源区的一侧与漂浮有源区的N+区接触;所述第二P型离子区位于所述N型离子区和漂浮有源区的底部;所述光电二极管在电荷传输晶体管沟道处的边界为所述第一P型离子区与所述N型离子区的接触处。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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