[实用新型]无图像拖尾的CMOS图像传感器像素结构有效

专利信息
申请号: 201420854026.8 申请日: 2014-12-29
公开(公告)号: CN204289451U 公开(公告)日: 2015-04-22
发明(设计)人: 郭同辉;旷章曲 申请(专利权)人: 北京思比科微电子技术股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 代理人: 郑立明;赵镇勇
地址: 100085 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种无图像拖尾的CMOS图像传感器像素结构,包括置于半导体基体中的光电二极管、电荷传输晶体管、漂浮有源区,还包括第一P型离子区、第二P型离子区、N型离子区;第一P型离子区和N型离子区位于电荷传输晶体管的沟道区,两者相互接触,并且第一P型离子区在靠近光电二极管的一侧与光电二极管上部的Pin型P+层接触,N型离子区在靠近漂浮有源区的一侧与漂浮有源区的N+区接触;第二P型离子区位于N型离子区和漂浮有源区的底部;光电二极管在电荷传输晶体管沟道处的边界为第一P型离子区与所述N型离子区的接触处。配合像素中的电荷传输晶体管栅极控制方法,进行光电电荷转移操作时,电荷传输晶体管沟道与光电二极管之间无势垒和势谷,不会产生图像拖尾现象。
搜索关键词: 图像 cmos 图像传感器 像素 结构
【主权项】:
一种无图像拖尾的CMOS图像传感器像素结构,包括置于半导体基体中的光电二极管、电荷传输晶体管、漂浮有源区,其特征在于,还包括第一P型离子区、第二P型离子区、N型离子区;所述第一P型离子区和N型离子区位于所述电荷传输晶体管的沟道区,两者相互接触,并且所述第一P型离子区在靠近所述光电二极管的一侧与光电二极管上部的Pin型P+层接触,所述N型离子区在靠近所述漂浮有源区的一侧与漂浮有源区的N+区接触;所述第二P型离子区位于所述N型离子区和漂浮有源区的底部;所述光电二极管在电荷传输晶体管沟道处的边界为所述第一P型离子区与所述N型离子区的接触处。
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