[实用新型]导光膜调试设备有效

专利信息
申请号: 201420865504.5 申请日: 2014-12-31
公开(公告)号: CN204439322U 公开(公告)日: 2015-07-01
发明(设计)人: 赵世帅;罗福勇;徐亮亮;沈鹏飞;沈明华;周俊 申请(专利权)人: 苏州通尔泰新材料科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京市科名专利代理事务所(特殊普通合伙) 11468 代理人: 郭杨
地址: 215143 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种导光膜调试设备,用于检测导光膜导光部件的导光效果,包括设置于光源上的匀光片、用于设置在所述的匀光片与导光膜之间的遮光片,所述的遮光片上对应所述的导光部件开设有检测通孔,检测导光膜导光效果时,所述的光源透过所述的匀光片照射于所述的遮光片与所述的导光部件上。测导光膜导光效果时,光线透过检测通孔作用于导光膜的导光部上,工作人员通过目测能够直接而有效地判断该导光部是否导光均匀,结构简单、操作简便。
搜索关键词: 导光膜 调试 设备
【主权项】:
一种导光膜调试设备,其特征在于:用于检测导光膜(3)的导光部(31)处的导光效果,包括设置于光源(4)上的匀光片(1)、用于设置在所述的匀光片(1)与导光膜(3)之间的遮光片(2),所述的遮光片(2)上对应所述的导光部(31)开设有检测通孔(21),检测导光膜(3)导光效果时,所述的光源(4)透过所述的匀光片(4)照射于所述的遮光片(2)与所述的导光部(31)上。
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