[实用新型]一种重离子微孔膜泡点测试装置有效
申请号: | 201420867495.3 | 申请日: | 2014-12-31 |
公开(公告)号: | CN204365151U | 公开(公告)日: | 2015-06-03 |
发明(设计)人: | 刘泽超;安孟稼;李甫;李爱萍 | 申请(专利权)人: | 北京南洋慧通新技术有限公司 |
主分类号: | B01D65/10 | 分类号: | B01D65/10 |
代理公司: | 北京市盛峰律师事务所 11337 | 代理人: | 于国富 |
地址: | 100085 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型是一种重离子微孔膜泡点测试装置,该泡点测试装置包括:底座、两个定位销、垫圈、观察器和端盖;所述端盖套合在所述观察器上表面,且与所述底座固定连接;两个所述定位销将所述观察器限位在所述底座的上表面;所述垫圈设置在所述观察器和所述底座之间,且陷于所述观察器底面上设置的垫圈凹槽内。本实用新型解决了现有检测重离子微孔膜孔径的方法中使用的测试装置存在测样耗时长、装置操作技术要求高、造价和维护成本高及应用范围受限的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 离子 微孔 膜泡点 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种重离子微孔膜泡点测试装置,其特征在于,该泡点测试装置包括:底座(1)、两个定位销(2)、垫圈(4)、观察器(5)和端盖(6);所述端盖(6)套合在所述观察器(5)上表面,且与所述底座(1)固定连接;两个所述定位销(2)将所述观察器(5)限位在所述底座(1)的上表面;所述垫圈(4)设置在所述观察器(5)和所述底座(1)之间,且陷于所述观察器(5)底面上设置的垫圈凹槽内。
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