[发明专利]温度测定装置及温度测定方法有效

专利信息
申请号: 201480001836.1 申请日: 2014-04-28
公开(公告)号: CN104520683B 公开(公告)日: 2018-05-08
发明(设计)人: 伊藤达男;式井慎一;楠龟弘一 申请(专利权)人: 松下电器(美国)知识产权公司
主分类号: G01J5/02 分类号: G01J5/02
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 徐殿军
地址: 美国加*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 温度测定装置(100)具有:红外线测定部(10),计测从物体的测定对象部位辐射的红外线;引导光照射部(11),照射引导光;光复用部(12),通过使引导光照射部(11)照射的引导光反射而朝向物体出射,通过使从物体辐射的红外线透射而入射到红外线测定部(10);位置调整部(13),在保持将从测定对象部位入射到红外线测定部(10)的红外线的光轴与引导光照射部(11)照射的引导光的光轴的偏差包含在规定的范围内的状态下,进行使引导光照射部(11)照射的引导光照射到测定对象部位的位置调整;以及焦点调节部(14),调节红外线测定部(10)和引导光照射部(11)的焦点,焦点调节部(14)在调节引导光照射部(11)的焦点后调节红外线测定部(10)的焦点。
搜索关键词: 温度 测定 装置 方法
【主权项】:
1.一种温度测定装置,该温度测定装置具有:红外线测定部,计测从物体的测定对象部位辐射的红外线;引导光照射部,照射引导光;光复用部,通过使所述引导光照射部照射的引导光反射或者透射而使其朝向所述物体出射,并且通过使从所述物体辐射的红外线透射或者反射而使其入射到所述红外线测定部;位置调整部,在保持使从所述测定对象部位入射到所述红外线测定部的红外线的光轴与所述引导光照射部照射的引导光的光轴的偏差包含在规定的范围内的状态下,进行使所述引导光照射部照射的引导光照射到所述测定对象部位的位置调整;以及焦点调节部,调节所述红外线测定部和所述引导光照射部的焦点,所述焦点调节部在调节所述引导光照射部的焦点后调节所述红外线测定部的焦点,由此使所述红外线测定部相对于所述测定对象部位的视野最小,所述焦点调节部进行调节以使得照射到所述测定对象部位的引导光的光斑直径为最小,由此调节所述引导光照射部的焦点,在调节所述引导光照射部的焦点后,根据所述引导光照射部的焦点调节结果调节所述红外线测定部的焦点。
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