[发明专利]半导体装置的制造方法有效

专利信息
申请号: 201480003314.5 申请日: 2014-01-24
公开(公告)号: CN104885208B 公开(公告)日: 2018-02-13
发明(设计)人: 熊本信二;关根直希;中泽基树;长岛康雄 申请(专利权)人: 株式会社新川
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L25/065;H01L25/07;H01L25/18
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 代理人: 杨文娟,臧建明
地址: 日本东京武藏村*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提出一种半导体装置的制造方法。在半导体装置(100)交替地形成接合部(75)~接合部(72)及环接部(85)~环接部(82),所述接合部(75)~接合部(72)使导线(12)的侧面接合于衬垫(65)~衬垫(62),所述环接部(85)~环接部(82)自接合部(75)~接合部(72)环接至与衬垫(65)~衬垫(62)邻接的其他衬垫(64)~衬垫(61)上为止。而且,在衬垫(65)~衬垫(61)自半导体芯片(55)~半导体芯片(51)的表面凹陷的情况下,将共用的导线(12)压扁至比衬垫(65)~衬垫(61)的凹陷深度厚的厚度而形成扁平形状。由此,在本发明中,对自半导体芯片的表面凹陷的电极有效率地进行结合。
搜索关键词: 半导体 装置 以及 制造 方法
【主权项】:
一种半导体装置的制造方法,其中所述半导体装置的制造方法的特征在于:交替地重复接合步骤及环接步骤,从而利用共用的导线将3个以上的半导体芯片或基板的电极依次连接,所述接合步骤是利用毛细管将所述导线的侧面按压至一电极,而将所述导线的侧面接合于所述一电极,所述环接步骤则是在所述接合步骤之后,利用毛细管使所述导线环接至其他电极上为止,所述环接步骤包括:第一上升步骤,在所述接合步骤后,使所述毛细管自所述一电极垂直地上升;第一倾斜移动步骤,在所述第一上升步骤之后,使所述毛细管朝向其他电极而向斜下方向移动;第二上升步骤,在所述第一倾斜移动步骤之后,再次使所述毛细管垂直地上升;反向步骤,在所述第二上升步骤之后,使所述毛细管朝向其他电极的相反侧而向斜下方向移动;第二倾斜移动步骤,在所述反向步骤之后,使所述毛细管向斜上方向移动至所述一电极正上方为止;第三上升步骤,在所述第二倾斜移动步骤之后,再次使所述毛细管垂直地上升;以及弧状移动步骤,在所述第三上升步骤之后,使毛细管朝向所述其他电极的正上方呈弧状地移动。
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