[发明专利]X射线设备有效
申请号: | 201480003504.7 | 申请日: | 2014-08-06 |
公开(公告)号: | CN104854662B | 公开(公告)日: | 2017-11-21 |
发明(设计)人: | D·B·库特拉;T·比洛;G·马滕斯;H-I·马克;K·R·梅茨 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | G21K1/02 | 分类号: | G21K1/02 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 蔡洪贵 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | X射线设备,具有位于焦点(12b)和检测器(28b)之间的准直仪装置(12a、18、28a),用于实现准直仪装置、检测器和X射线源在x‑z平面(83)内沿着扫描轨迹(30)且也沿着弯曲的扫描轨迹(45)的运动的机构,所述弯曲的扫描轨迹(45)部分地沿着垂直于x‑z平面的y轴(35)延伸。通过使用本发明可以获得具有弯曲的边缘的对象的更好的组织覆盖。 | ||
搜索关键词: | 射线 设备 | ||
【主权项】:
一种X射线设备,包括X射线源(20),其被配置为用于产生X射线束(16)且包括焦点位置(12b);检测器(28b),其被配置为检测X辐射;准直仪装置(12a、18、28a),其包括至少一个准直仪结构,所述准直仪装置位于所述焦点位置(12b)和所述检测器(28b)之间;用于实现所述准直仪装置、所述检测器和所述X射线源在x‑z平面(83)中沿着扫描轨迹(30)的运动的机构(43);控制单元,其被配置为用于控制所述用于实现所述准直仪装置(12a、18、28a)、所述检测器(28b)和所述X射线源(20)沿着所述扫描轨迹(30)的运动的机构,其特征在于,用于实现所述准直仪装置(12a、18、28a)、所述检测器(28b)和所述X射线源(20)的所述扫描轨迹(30)的所述机构(43)还被配置为用于实现沿着弯曲的扫描轨迹(45)的运动,所述弯曲的扫描轨迹部分地沿着与所述x‑z平面垂直的y轴(35)延伸。
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