[发明专利]金属-绝缘体-金属电容器形成技术有效
申请号: | 201480003629.X | 申请日: | 2014-01-16 |
公开(公告)号: | CN104885211B | 公开(公告)日: | 2018-07-27 |
发明(设计)人: | M·J·科布林斯基;R·L·布里斯托尔;M·C·梅伯里 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | H01L21/8242 | 分类号: | H01L21/8242;H01L27/108 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 林金朝;王英 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明公开了用于提供具有总体上波纹形的轮廓的MIM电容器的技术和结构。使用响应于处理(加热或其它适当刺激)而有效地创建图案的牺牲自组织材料来提供波纹形形貌,所述图案被转移到其中形成所述MIM电容器的电介质材料。所述自组织材料可以是例如一层定向自组装材料,其响应于加热或其它刺激而离析成两个交替的相,其中,然后可以相对于所述相的其中之一而有选择地蚀刻掉另一个相,以提供期望的图案。在另一种示例性情况下,所述自组织材料是在被加热时凝聚成隔离的岛的一层材料。如根据本公开内容将领会的,例如,可以使用所公开的技术来增大每单位面积的电容,可以通过蚀刻较深的电容器沟槽/洞来缩放面积。 | ||
搜索关键词: | 金属 绝缘体 电容器 形成 技术 | ||
【主权项】:
1.一种形成集成电路的方法,所述方法包括:沉积第一电介质层,在所述第一电介质层中没有设置金属互连;在所述第一电介质层之上沉积硬掩模层;在所述硬掩模层之上沉积自组织材料的牺牲掩模层;使所述牺牲掩模层图案化,其中,所述图案化包括非减法工艺,其使所述牺牲掩模层自组织成不同的结构;使用经图案化的牺牲掩模层来使所述第一电介质层图案化;以及在经图案化的第一电介质层之上沉积金属‑绝缘体‑金属(MIM)电容器。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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