[发明专利]金属-绝缘体-金属电容器形成技术有效

专利信息
申请号: 201480003629.X 申请日: 2014-01-16
公开(公告)号: CN104885211B 公开(公告)日: 2018-07-27
发明(设计)人: M·J·科布林斯基;R·L·布里斯托尔;M·C·梅伯里 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: H01L21/8242 分类号: H01L21/8242;H01L27/108
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 林金朝;王英
地址: 美国加*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开了用于提供具有总体上波纹形的轮廓的MIM电容器的技术和结构。使用响应于处理(加热或其它适当刺激)而有效地创建图案的牺牲自组织材料来提供波纹形形貌,所述图案被转移到其中形成所述MIM电容器的电介质材料。所述自组织材料可以是例如一层定向自组装材料,其响应于加热或其它刺激而离析成两个交替的相,其中,然后可以相对于所述相的其中之一而有选择地蚀刻掉另一个相,以提供期望的图案。在另一种示例性情况下,所述自组织材料是在被加热时凝聚成隔离的岛的一层材料。如根据本公开内容将领会的,例如,可以使用所公开的技术来增大每单位面积的电容,可以通过蚀刻较深的电容器沟槽/洞来缩放面积。
搜索关键词: 金属 绝缘体 电容器 形成 技术
【主权项】:
1.一种形成集成电路的方法,所述方法包括:沉积第一电介质层,在所述第一电介质层中没有设置金属互连;在所述第一电介质层之上沉积硬掩模层;在所述硬掩模层之上沉积自组织材料的牺牲掩模层;使所述牺牲掩模层图案化,其中,所述图案化包括非减法工艺,其使所述牺牲掩模层自组织成不同的结构;使用经图案化的牺牲掩模层来使所述第一电介质层图案化;以及在经图案化的第一电介质层之上沉积金属‑绝缘体‑金属(MIM)电容器。
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