[发明专利]用于动态分配扫描测试资源的电路和方法有效
| 申请号： | 201480003921.1 | 申请日： | 2014-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN104903736B | 公开（公告）日： | 2019-03-15 |
| 发明（设计）人： | R·A·帕瑞克基;S·拉维;P·纳拉亚南;M·谢蒂 | 申请（专利权）人： | 德克萨斯仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/311 | 分类号： | G01R31/311 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 赵蓉民;赵志刚 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开一种测试被测设备(DUT)的方法和测试系统。生成与从测试系统接收到的测试图案结构关联的至少一个控制信号(705)。从DUT中数量为M的I/O端口选择M1个端口，以基于控制信号接收对应于测试图案结构的扫描输入(710)，以及从数量为M的I/O端口选择M2个端口，以基于控制信号提供扫描输出(715)。M1和M2中的每个是选自0到M的数值，其中M1和M2的总和小于或等于M。DUT的扫描测试基于提供扫描输入到M1个端口以及从M2个端口接收扫描输出来执行(730)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 动态分配 扫描 测试 资源 电路 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试被测设备即DUT的方法，至少一个DUT包括与数量为M的输入/输出端口即I/O端口关联的数量为N的扫描通道，所述方法包括：产生与测试图案结构关联的至少一个控制信号，所述测试图案结构被配置为经实施以扫描测试所述至少一个DUT；从所述数量为M的I/O端口中选择数量为M1的端口，以便基于所述至少一个控制信号接收对应于所述测试图案结构的扫描输入；从所述数量为M的I/O端口中选择数量为M2的端口，以便基于所述至少一个控制信号提供对应于所述测试图案结构的扫描输出，M1和M2中的每个是选自0到M之间的数值范围的数值，并且M1和M2的总和小于或等于M；以及基于将所述扫描输入提供到所述数量为M1的端口以及从所述数量为M2的端口接收所述扫描输出，执行所述至少一个DUT的扫描测试。
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