[发明专利]光源装置及投影仪有效

专利信息
申请号: 201480004001.1 申请日: 2014-01-29
公开(公告)号: CN104904321B 公开(公告)日: 2017-07-11
发明(设计)人: 冈本昌士;鲛岛贵纪 申请(专利权)人: 优志旺电机株式会社
主分类号: H05B37/03 分类号: H05B37/03
代理公司: 永新专利商标代理有限公司72002 代理人: 胡建新,朴勇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的目的在于提供一种光源装置及投影仪,不是以来自各光纤的输出光束为对象,而是以统合来自所有光纤的放射光而成的输出光束为对象来进行光量测定,并能够通过该光亮测定来检测各光纤的断裂等异常。发明的光源装置的特征在于,将具备发光元件及其驱动电路的要素光源的各光纤的放射光统合成1个输出光束而输出,具有光传感器,能够得到与输出光束的光量相关的光量测定数据,控制电路选择1个要素光源,并控制成所选择的驱动电路在发光元件中流过规定电流的状态、除此以外的所有驱动电路不在发光元件中流过电流的状态,取得此时的光量测定数据,实施对于所有要素光源依次进行选择来执行上述的取得光量测定数据的过程的次序,根据由所取得的光量测定数据构成的测定数据集,来检测异常。
搜索关键词: 光源 装置 投影仪
【主权项】:
一种光源装置,具有多个要素光源(U1、U2、…),上述多个要素光源(U1、U2、…)分别是具备以下构件的单元:1个以上的发光元件(Y1a、Y1b、…、Y2a、Y2b、…);驱动电路(P1a、P1b、…、P2a、P2b、…),驱动上述发光元件(Y1a、Y1b、…、Y2a、Y2b、…);聚光光学系统(Ec1、Ec2、…),对从上述发光元件(Y1a、Y1b、…、Y2a、Y2b、…)发出的光进行聚光;以及光纤(Ef1、Ef2、…),从入射端(Ei1、Ei2、…)接收由上述聚光光学系统(Ec1、Ec2、…)聚光后的光且进行导光,并从射出端(Eo1、Eo2、…)放射,将来自上述多个要素光源(U1、U2、…)各自的上述光纤(Ef1、Ef2、…)的上述射出端(Eo1、Eo2、…)的放射光统合为1个输出光束(Fo)而输出,上述光源装置的特征在于,上述光源装置还具有:光传感器(A、Ax、Ay、…);光量测定电路(H、Hx、Hy、…),接收来自上述光传感器(A、Ax、Ay、…)的信号,测定对上述光传感器(A、Ax、Ay、…)的入射光量,生成光量测定数据(Sh、Shx、Shy、…);以及控制电路(Mc),接收上述光量测定数据(Sh、Shx、Shy、…),并且控制上述驱动电路(P1a、P1b、…、P2a、P2b、…),上述光源装置构成为,向上述光传感器(A、Ax、Ay、…)至少照射将来自上述多个要素光源(U1、U2、…)各自的上述光纤(Ef1、Ef2、…)的上述射出端(Eo1、Eo2、…)的放射光统合而形成的1个光束的一部分,由此上述控制电路(Mc)能够接收与上述输出光束(Fo)的光量相关的上述光量测定数据(Sh、Shx、Shy、…),将状态A和状态B设为上述驱动电路向上述发光元件流过规定电流的状态或上述驱动电路不向上述发光元件流过电流的状态中的某一状态时,上述控制电路(Mc)实施对所有上述多个要素光源(U1、U2、…)依次进行选择来执行如下动作的次序,该动作为:选择上述多个要素光源(U1、U2、…)中的1个要素光源,且控制为属于所选择的上述要素光源的至少1个上述驱动电路的状态A与除此以外的所有的上述驱动电路的状态B成为不同的状态,并取得此时的上述光量测定数据(Sh、Shx、Shy、…),上述控制电路(Mc)根据由所取得的上述光量测定数据(Sh、Shx、Shy、…)构成的测定数据集,来检测各个上述光纤的异常。
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