[发明专利]X射线CT装置以及图像重构方法有效

专利信息
申请号: 201480004061.3 申请日: 2014-01-29
公开(公告)号: CN104902818B 公开(公告)日: 2017-09-29
发明(设计)人: 小原亮太 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 齐秀凤
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明为了提供一种通过限定范围来适用逐次近似投影数据校正处理从而缩短逐次近似投影数据校正处理所需要的运算时间,并且能生成与检查目的相应的低噪声图像的X射线CT装置等,X射线CT装置(1)的运算装置(202)对通过拍摄所获得的投影数据实施逐次近似投影数据校正处理来创建校正投影数据,并采用校正投影数据来重构CT图像。运算装置(202)基于拍摄条件、重构条件等来决定适用逐次近似投影数据校正处理的范围。例如,基于X射线束宽度来决定切片方向适用范围,基于FOV来决定通道方向适用范围。运算装置(202)对与决定出的适用范围相应的投影数据实施逐次近似投影数据校正处理,来创建校正投影数据。
搜索关键词: 射线 ct 装置 以及 图像 方法
【主权项】:
一种X射线CT装置,其特征在于,具备:X射线产生装置,其从被检体的周围照射X射线;X射线检测装置,其检测透射上述被检体的X射线;数据收集装置,其收集由上述X射线检测装置检测的数据;运算装置,其输入由上述数据收集装置收集的数据来创建投影数据,并采用上述投影数据来重构CT图像;和显示装置,其显示上述CT图像,上述运算装置具备:适用范围决定部,其决定对上述投影数据适用逐次近似投影数据校正处理的范围,该逐次近似投影数据校正处理为基于采用了表示校正的强度的平滑系数的逐次近似法的校正处理;余量设定部,其在由上述适用范围决定部决定出的范围的周围设定余量区域;逐次近似投影数据校正处理部,其对与由上述适用范围决定部决定出的范围相应的投影数据实施上述逐次近似投影数据校正处理,对与由余量设定部所设定的余量区域相应的投影数据使上述平滑系数的大小连续性变化地实施上述逐次近似投影数据校正处理,来创建校正投影数据;和图像重构部,其采用上述校正投影数据来重构CT图像。
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