[发明专利]用于制备多孔硅微粒的电化学和化学蚀刻的组合方法在审
申请号: | 201480004088.2 | 申请日: | 2014-01-07 |
公开(公告)号: | CN105264654A | 公开(公告)日: | 2016-01-20 |
发明(设计)人: | S·L·比斯瓦尔;M·S·王;M·塔库尔;S·L·辛萨伯格 | 申请(专利权)人: | 威廉马歇莱思大学;洛克西德马丁有限公司 |
主分类号: | H01L21/76 | 分类号: | H01L21/76 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 郭辉;陈哲锋 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明的实施方式涉及通过下述制备多孔硅微粒的方法:(a)电化学蚀刻硅基材,其中电化学蚀刻包括将硅基材暴露于电流密度,和其中电化学蚀刻在硅基材上制备多孔硅膜;(b)从硅基材分离多孔硅膜,其中该分离包括以连续增量逐渐增加电流密度;(c)多次重复步骤(a)和(b);(d)根据步骤(a)电化学蚀刻硅基材以在硅基材上制备多孔硅膜;(e)化学蚀刻多孔硅膜和硅基材;和(f)裂解多孔硅膜和硅基材以形成多孔硅微粒。本发明的其它实施方式涉及形成的多孔硅微粒和包含它们的阳极材料。 | ||
搜索关键词: | 用于 制备 多孔 微粒 电化学 化学 蚀刻 组合 方法 | ||
【主权项】:
一种制备多孔硅微粒的方法,其中所述方法包括:(a)电化学蚀刻硅基材,其中所述电化学蚀刻包括将所述硅基材暴露于电流密度,和其中所述电化学蚀刻在所述硅基材上制备多孔硅膜;(b)从所述硅基材分离所述多孔硅膜,其中所述分离包括以连续增量的方式逐渐增加电流密度;(c)多次重复步骤(a)和(b);(d)根据步骤(a)电化学蚀刻所述硅基材以在该硅基材上制备多孔硅膜;(e)化学蚀刻所述多孔硅膜和所述硅基材;和(f)裂解所述多孔硅膜和所述硅基材以形成多孔硅微粒。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造