[发明专利]氮化物半导体发光元件有效
申请号: | 201480004398.4 | 申请日: | 2014-03-28 |
公开(公告)号: | CN104919604B | 公开(公告)日: | 2017-06-09 |
发明(设计)人: | 渡边昌规;驹田聪;井上知也;川畑昴佑 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | H01L33/32 | 分类号: | H01L33/32 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 吴秋明 |
地址: | 日本国大阪府大阪*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 氮化物半导体发光元件依次具备第一n型氮化物半导体层、第二n型氮化物半导体层、n型电子注入层和发光层,第二n型氮化物半导体层的平均n型掺杂物浓度为第一n型氮化物半导体层的平均n型掺杂物浓度的0.53倍以下,n型电子注入层的平均n型掺杂物浓度为第二n型氮化物半导体层的平均n型掺杂物浓度的1.5倍以上。 | ||
搜索关键词: | 氮化物 半导体 发光 元件 | ||
【主权项】:
一种氮化物半导体发光元件,依次具备第一n型氮化物半导体层、第二n型氮化物半导体层、n型电子注入层、发光层和p型氮化物半导体层,所述第二n型氮化物半导体层的平均n型掺杂物浓度为所述第一n型氮化物半导体层的平均n型掺杂物浓度的0.53倍以下,所述n型电子注入层的平均n型掺杂物浓度为所述第二n型氮化物半导体层的平均n型掺杂物浓度的1.5倍以上,所述n型电子注入层的带隙大于所述第二n型氮化物半导体层的带隙,所述n型电子注入层含有Al。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普株式会社,未经夏普株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201480004398.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种造纸伏辊自脱水装置
- 下一篇:一种提高纸幅均匀度的真空脱水箱