[发明专利]测量刻度有效
| 申请号： | 201480004864.9 | 申请日： | 2014-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN104937381B | 公开（公告）日： | 2017-10-20 |
| 发明（设计）人： | 马修·唐纳德·基德;尼古拉斯·约翰·韦斯顿;詹姆斯·雷诺兹·亨肖;马库斯·阿德龙;约翰·黛尔迪丝;罗伯特·汤姆森 | 申请（专利权）人： | 瑞尼斯豪公司 |
| 主分类号： | G01D5/34 | 分类号： | G01D5/34;B82Y20/00 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙)11413 | 代理人： | 谢攀,刘继富 |
| 地址： | 英国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种测量刻度装置，其包括至少一个刻度标记，其中所述或每一刻度标记包括表示刻度装置信息的至少一个周期性纳米结构。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 刻度 | ||
【主权项】：
一种测量刻度装置，用于确定两个物体的相对位置，所述测量刻度装置包括至少一个刻度标记，其中所述刻度标记或每一刻度标记包括表示刻度装置信息的至少一个周期性纳米结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于瑞尼斯豪公司，未经瑞尼斯豪公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201480004864.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
