[发明专利]探测变形的工具和探测变形的方法

摘要

一种用于探测名义上直的元件变形的工具，所述工具包括具有第一直边缘的第一本体元件，用于对着所述直的元件偏置第一直边缘的装置，以及布置成照亮直元件和第一本体元件的第一直边缘之间任何空间的光源。

主权项

1.一种探测名义上直的元件变形的方法，所述方法包括：使具有第一直边缘的第一本体元件以所述第一直边缘对着所述名义上直的元件偏置；通过位于所述第一本体元件的第一侧上的光源，从所述第一本体元件的第一侧照亮所述第一直边缘；以及从所述第一本体元件的第二侧观看所述第一直边缘，以探测来自光源的任何光线通过所述名义上直的元件和所述第一本体元件的所述第一直边缘之间，其中，所述第二侧关于所述第一本体元件与所述第一侧是相对的；其中，所述名义上直的元件包括中空接头销的内表面，并且对着所述名义上直的元件偏置所述第一直边缘的步骤包括将所述第一本体元件定位在所述中空接头销内。