[发明专利]用于测量植物生长条件的装置及方法

摘要

本发明提供了用于在基质内测量植物生长条件的装置(10)和方法。使用探针(16、18)的第一和第二线性阵列，获得基质性质的多个测量结果。使用在基质中不同水平面的多个测量结果然后将这多个测量结果组合，从而更精确地获得植物生长条件。

主权项

1.一种在植物生长基质内检测植物生长条件的装置，所述装置包括：用于插入到所述基质中的由一个或多个探针形成的第一线性阵列；用于插入到所述基质中的由一个或多个探针形成的第二线性阵列，其中所述第二线性阵列以固定距离远离所述第一线性阵列设置；控制单元，其设置为从所述探针的第一线性阵列获得位于第一基质水平面的至少一种基质特性的第一测量结果，并且从所述探针的第二线性阵列获得位于第二基质水平面的至少一种基质特性的第二测量结果；其中所述控制单元进一步设置为将在所述第一和第二基质水平面获得的所述第一和第二测量结果组合，从而根据所述第一和第二测量结果计算基质的至少一种植物生长条件；该装置进一步包括适合与所述基质的边缘接合的导向器元件，其中所述导向器元件通过可调节的保持装置与所述装置连接，所述可调节的保持装置适合在相对于所述探针的多个可选的位置保持所述导向器元件。