[发明专利]系统分析设备和系统分析方法有效
申请号: | 201480009299.5 | 申请日: | 2014-02-05 |
公开(公告)号: | CN105027088B | 公开(公告)日: | 2018-07-24 |
发明(设计)人: | 矢吹谦太郎 | 申请(专利权)人: | 日本电气株式会社 |
主分类号: | G06F11/34 | 分类号: | G06F11/34;G05B23/02 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 李兰;孙志湧 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 在使用关联破坏模式进行系统状态检测时,提高了关联破坏模式的多用性。一种系统分析设备包括(100):关联破坏模式存储单元(113)、聚合破坏模式产生单元(104)和相似度计算单元(105)。关联破坏模式存储单元(113)存储多个关联破坏模式(123),各关联破坏模式是系统中的成对度量的关联之中的检测到关联破坏的关联集合。聚合破坏模式产生单元(104)产生通过聚合所述多个关联破坏模式(123)之中的同一类型的关联破坏模式而得到的聚合破坏模式(124)。相似度计算单元(105)计算并输出所述聚合破坏模式(124)和新检测到的关联破坏模式(123)之间的相似度。 | ||
搜索关键词: | 系统分析 设备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种系统分析设备,包括:关联破坏模式存储单元,所述关联破坏模式存储单元存储多个关联破坏模式,所述多个关联破坏模式中的每一个是在系统中性能指标对的关联当中的检测到关联破坏的关联的集合,所述性能指标对是所述系统的多个性能指标当中的两个性能指标,所述关联破坏是在通过将所述性能指标对中的一个的测量值输入到指示所述关联的关联函数所预测的值与所述性能指标对中的另一个的测量值之间的差等于或大于预定值时被检测到的;聚合破坏模式产生单元,所述聚合破坏模式产生单元产生聚合破坏模式,所述聚合破坏模式是通过聚合在所述多个关联破坏模式当中的相同类型的关联破坏模式而得到的,所述关联破坏模式是已经检测到关联破坏的关联的集合,所述相同类型的关联破坏模式是包括预定数目或更多个或者相同类型的关联预定比率或更大的关联破坏模式,所述相同类型的关联是具有相同性能指标类型对的关联,所述性能指标类型对是一对关联的输入性能指标的性能指标类型和所述关联的输出性能指标的性能指标类型,所述性能指标类型指示所述性能指标的值的表现,所述聚合破坏模式是聚合关联的集合,所述聚合关联是根据所述相同类型的关联的性能指标类型的对;以及相似度计算单元,所述相似度计算单元计算并输出在所述聚合破坏模式和新检测到的关联破坏模式之间的相似度。
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