[发明专利]用于向光学镜片构件提供参考元件的方法有效

专利信息
申请号: 201480011075.8 申请日: 2014-02-28
公开(公告)号: CN105026133B 公开(公告)日: 2017-07-28
发明(设计)人: F·杜博伊斯;S·莫里斯 申请(专利权)人: 埃西勒国际通用光学公司
主分类号: B29D11/00 分类号: B29D11/00;G01M11/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 陈华成
地址: 法国沙*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 用于向光学镜片构件提供参考元件的方法,该方法包括‑一个光学镜片构件提供步骤,在该步骤过程中,提供一个光学镜片构件(10),该光学镜片构件包括一个第一光学表面(11)以及一个有待制造的第二光学表面(13),该第一光学表面包括与一个第一参考系相关联的一种表面设计,该第一光学表面和该第二光学表面是通过一个外周边表面连接的,‑一个测量步骤,在该步骤过程中,对该光学镜片构件的该第一光学表面进行测量并确定该第一参考系,其中,该参考系是根据该第一光学表面(11)的形状和取向确定的,‑一个参考步骤,在该步骤过程中,一个参考元件(111)被添加至该光学镜片构件,其中,该参考元件标识该第一参考系。
搜索关键词: 用于 光学镜片 构件 提供 参考 元件 方法
【主权项】:
一种用于向光学镜片构件提供参考元件的方法,该方法包括:‑光学镜片构件提供步骤S1,在该步骤过程中,提供光学镜片构件,该光学镜片构件包括第一光学表面以及有待制造的第二光学表面,该第一光学表面包括与第一参考系相关联的表面设计,该第一光学表面和该第二光学表面是通过外周边表面连接的,‑测量步骤S2,在该步骤过程中,使用机械传感器或光学测量对该光学镜片构件的该第一光学表面进行测量并确定该第一参考系,其中,该参考系是根据该第一光学表面(11)的形状和取向确定的,‑参考步骤S3,在该步骤过程中,参考元件被添加至该光学镜片构件,其中,该参考元件标识该第一参考系,其中,该参考元件被至少部分地添加在该光学镜片构件的该第一光学表面上和/或至少部分地添加在该光学镜片构件的该第二光学表面上,以及其中该参考元件包括多个临时标记。
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