[发明专利]用于测量与校正由像差介质引起的超声相位畸变的系统与方法在审

专利信息
申请号: 201480011908.0 申请日: 2014-03-04
公开(公告)号: CN105073016A 公开(公告)日: 2015-11-18
发明(设计)人: K·H·海尼伦;M·A·奥莱理 申请(专利权)人: 森尼布鲁克健康科学中心
主分类号: A61B8/00 分类号: A61B8/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 姬利永
地址: 加拿大*** 国省代码: 加拿大;CA
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摘要: 提供将聚焦超声有效发射穿过诸如骨骼等的介质并进行接收的系统和方法。迭代地更新聚焦超声的聚焦区域以提供通过介质的改进焦点。上述方法可以通过使用包括各自以不同频率工作的两个或更多发射阵列的换能器组件来实现。可以通过使用低频发射阵列传递聚焦超声来设置和更新初始焦点。由第一次迭代确定的相位校正可以被应用到后续高频发射阵列和接收到的信号,此过程不断地重复直到获得需要的焦点或图像分辨率。
搜索关键词: 用于 测量 校正 介质 引起 超声 相位 畸变 系统 方法
【主权项】:
一种聚焦超声系统,包括:换能器组件,包括:由发射换能器元件构成的多个发射阵列,每个发射阵列以不同的频率工作;由接收换能器元件构成的至少一个接收阵列;与换能器组件通信的处理器,被配置用于:为换能器组件设置聚焦区域;通过以下步骤为换能器组件中的每个换能器阵列迭代地更新聚焦区域:选择具有最低剩余工作频率的发射阵列;引导所选择的发射阵列激发该发射阵列的初始聚焦区域;引导至少一个接收阵列接收来自初始聚焦区域的信号;从接收到的信号重建聚焦区域的图像;从重建的图像计算相位校正值;将所计算的相位校正值应用于所选择的发射阵列和具有下一最高工作频率的发射阵列。
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