[发明专利]具有为改进效率配置的低带隙活性层的光敏器件和相关方法有效
申请号: | 201480012914.8 | 申请日: | 2014-02-21 |
公开(公告)号: | CN105051914B | 公开(公告)日: | 2018-09-25 |
发明(设计)人: | F·纽曼 | 申请(专利权)人: | 索泰克公司 |
主分类号: | H01L31/068 | 分类号: | H01L31/068;H01L31/18 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 吕俊刚;刘久亮 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | 光敏器件包括活性区域,该活性区域被设置在第一电极和第二电极之间,并且被配置为吸收辐射并且在电极之间生成电压。所述活性区域包括活性层,所述活性层包含展现出相对低的带隙的半导体材料。所述活性层具有前表面以及在所述活性层的相对侧的相对更粗糙的后表面,辐射穿过所述前表面进入所述活性层。制造光敏器件的方法包括形成这样的活性区域和电极。 | ||
搜索关键词: | 有为 改进 效率 配置 低带隙 活性 光敏 器件 相关 方法 | ||
【主权项】:
1.一种制造光敏器件的方法,该方法包括以下步骤:将第一材料层从供体结构转印到第一基板的表面上,所述第一材料层包括含锗的半导体材料和1.50μm或更小的厚度,所述半导体材料展现出0.60eV到2.10eV之间的带隙;在所述第一材料层上外延生长至少一个附加材料层以增加所述第一材料层的厚度并且形成第一活性层,所述第一活性层包括展现出0.60eV到2.10eV之间的带隙的半导体材料,所述第一活性层具有前表面以及在所述第一活性层的与所述前表面相反的一侧的后表面,在所述光敏器件的操作期间辐射穿过所述前表面进入;在所述第一活性层上形成包括III‑V半导体材料的第二活性层;在所述第二活性层上形成第三活性层;在所述第三活性层上形成第四活性层;在所述第四活性层的与所述第一基板相反的一侧、在所述第四活性层上附接第二基板,使得所述第一活性层、所述第二活性层、所述第三活性层和所述第四活性层形成设置在所述第一基板与所述第二基板之间的活性区域;将所述第一基板从所述活性区域去除并且暴露所述第一活性层的所述后表面;在将所述第一基板去除之后对所述第一活性层的所述后表面进行处理,并且使得所述后表面具有比所述第一活性层的所述前表面的表面粗糙度大的表面粗糙度;在所述第一活性层的粗糙化的所述后表面上形成第一电极;以及在所述第四活性层上形成第二电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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