[发明专利]显示装置及其驱动方法有效
申请号: | 201480013557.7 | 申请日: | 2014-03-05 |
公开(公告)号: | CN105190739B | 公开(公告)日: | 2017-08-08 |
发明(设计)人: | 岸宣孝 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | G09G3/30 | 分类号: | G09G3/30;G09G3/20;H01L51/50 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供一种在显示装置中进行驱动晶体管的劣化和发光元件的劣化两者的特性检测时不进行特别的发光就能够同时进行补偿的驱动方法。在具有包括利用电流控制亮度的电光学元件和用于控制要供给到该电光学元件的电流的驱动晶体管的像素电路的显示装置中,驱动方法包括检测驱动晶体管的特性的第一特性检测步骤(S10);检测电光学元件的特性的第二特性检测步骤(S20);将基于第一和第二特性检测步骤(S10、S20)中的检测结果得到的特性数据,作为用于修正视频信号的修正数据来存储的修正数据存储步骤(S30);和基于修正数据对视频信号进行修正的视频信号修正步骤(S40)。在此,第二特性检测步骤(S20)的处理在发光期间进行。 | ||
搜索关键词: | 显示装置 及其 驱动 方法 | ||
【主权项】:
一种显示装置的驱动方法,该显示装置具有由n×m个像素电路构成的n行×m列的像素矩阵,所述n×m个像素电路分别包括利用电流控制亮度的电光学元件和用于控制要供给到所述电光学元件的电流的驱动晶体管,其中,n和m为2以上的整数,所述驱动方法的特征在于,包括:检测所述驱动晶体管的特性的第一特性检测步骤;检测所述电光学元件的特性的第二特性检测步骤;将基于所述第一特性检测步骤中的检测结果和所述第二特性检测步骤中的检测结果得到的特性数据,作为用于修正视频信号的修正数据存储到预先准备的修正数据存储部的修正数据存储步骤;和基于存储于所述修正数据存储部中的修正数据修正所述视频信号,生成要供给到所述n×m个像素电路的数据信号的视频信号修正步骤,1帧期间包括进行使所述电光学元件发光的准备的选择期间和进行所述电光学元件的发光的发光期间,所述第一特性检测步骤和所述第二特性检测步骤的一者或两者的处理在每1帧期间仅在所述像素矩阵的1行进行,所述第二特性检测步骤的处理在所述发光期间进行,在所述第二特性检测步骤中,通过测定在对所述电光学元件供给一定的电流的状态下所述电光学元件的阳极的电压,检测所述电光学元件的特性,在所述第二特性检测步骤中,通过在1帧期间中的发光电流的积分值成为与目标灰度等级相当的值的范围内将多个电平的所述一定的电流供给到所述电光学元件,检测多个特性作为所述电光学元件的特性。
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