[发明专利]基于掺杂有导电纳米填充物的介电聚合物的分数阶电容器在审

专利信息
申请号: 201480013947.4 申请日: 2014-03-06
公开(公告)号: CN105190805A 公开(公告)日: 2015-12-23
发明(设计)人: 穆罕默德·N·阿尔马道恩;阿姆鲁·叔拉法;卡勒德·萨拉马;胡萨姆·N·谢里夫 申请(专利权)人: 沙特基础工业公司
主分类号: H01G4/20 分类号: H01G4/20
代理公司: 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 代理人: 谢攀;刘继富
地址: 沙特阿拉*** 国省代码: 沙特阿拉伯;SA
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摘要: 发明公开了一种分数阶电容器。分数阶电容器被定义为具有适配的介电阻抗。为了获得介电层的所需阻抗,导电的纳米填充材料被添加到电介质,由此导致形成介电纳米复合层。在本发明中,聚合物基质(如PVDF-TRFE)与石墨烯结合。所述石墨烯能够部分地或者完全地未被氧化。本发明公开了一种分数阶电容器,其包括:厚度为t的介电纳米复合层,其包括第一侧和与该第一侧相对的第二侧;第一电极层,其耦合至介电纳米复合层的第一侧;第二电极层,其耦合至介电层的第二侧;复阻抗相位角,其至少取决于介电纳米复合层中的填充材料的材料重量百分比。
搜索关键词: 基于 掺杂 导电 纳米 填充物 聚合物 分数 电容器
【主权项】:
一种分数阶电容器,其包括:厚度为t的介电纳米复合层,其包括第一侧和与所述第一侧相对的第二侧;第一电极层,其耦合至所述介电纳米复合层的第一侧;第二电极层,其耦合至所述介电纳米复合层的第二侧;和复阻抗相位角,其至少取决于所述介电纳米复合层中的填充材料的材料重量百分比。
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