[发明专利]用于校准来自分析物传感器的传感器数据点的方法和系统有效
| 申请号： | 201480014870.2 | 申请日： | 2014-01-27 |
| 公开（公告）号： | CN105408902B | 公开（公告）日： | 2019-01-15 |
| 发明（设计）人： | S.J.范斯利克;N.C.巴瓦拉朱;L.博内特;A.加西亚;A.U.卡马思;J.普赖尔 | 申请（专利权）人： | 德克斯康公司 |
| 主分类号： | G16H20/40 | 分类号： | G16H20/40;A61B5/1495 |
| 代理公司： | 北京市君合律师事务所 11517 | 代理人： | 吴龙瑛;顾云峰 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供用于处理传感器数据和传感器校准的系统和方法。在一些实施例中，用于校准来自分析物传感器的至少一个传感器数据点的方法包含接收先验校准分布信息；接收一个或多个实时输入，其可影响分析物传感器的校准；基于所述一个或多个实时输入形成后验校准分布信息；和基于后验校准分布信息来实时转换至少一个经传感器数据点校准的传感器数据。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析 传感器 高级 校准 | ||
【主权项】：
1.一种用于校准来自分析物传感器的至少一个传感器数据点的方法，所述方法包含：(a)接收先验校准分布信息；(b)接收一个或多个实时输入，其可影响所述分析物传感器的校准，其中所述一个或多个实时输入包括内部衍生实时数据；当相对于所述内部衍生实时数据确定高确定性水平时，配置包括所述分析物传感器的传感器系统以自适应地减少或消除对来自外部参考源的校准信息的要求；(c)基于所述一个或多个实时输入形成后验校准分布信息；和(d)基于所述后验校准分布信息将至少一个传感器数据点实时转换成经校准的传感器数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于德克斯康公司，未经德克斯康公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201480014870.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种坩埚缺陷检测方法
- 下一篇：生物质烟气制备系统
