[发明专利]具有冗余方案的发光二极管显示器和利用集成的缺陷检测测试来制造发光二极管显示器的方法有效
申请号: | 201480015005.X | 申请日: | 2014-03-06 |
公开(公告)号: | CN105144387B | 公开(公告)日: | 2018-03-13 |
发明(设计)人: | A·比布尔;K·V·萨卡里亚;C·R·格里格斯;J·M·珀金斯 | 申请(专利权)人: | 苹果公司 |
主分类号: | H01L27/32 | 分类号: | H01L27/32;H01L51/52 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所11256 | 代理人: | 王茂华,张宁 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明描述了一种显示器面板及其制造方法。在一个实施例中,显示器衬底包括像素区域和非像素区域。子像素的阵列和对应的底部电极的阵列在像素区域中。微型LED器件的阵列键合到底部电极的阵列。与微型LED器件的阵列电接触的一个或多个顶部电极层被形成。在一个实施例中,一对冗余微型LED器件键合到底部电极的阵列。在一个实施例中,微型LED器件的阵列被成像以检测不规则部件。 | ||
搜索关键词: | 具有 冗余 方案 发光二极管 显示器 利用 集成 缺陷 检测 测试 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种具有冗余方案的显示器面板,包括:包括具有子像素的阵列的像素区域的显示器衬底;所述子像素的阵列内的冗余微型LED器件对的阵列,其中每个子像素包括冗余微型LED器件对,并且相应子像素内的每个冗余微型LED器件对被设计为发射相同原色发射;以及与所述冗余微型LED器件对的阵列电接触的一个或多个顶部电极层;其中所述冗余微型LED器件对的阵列包括一个或多个缺失的微型LED器件;以及其中所述子像素的阵列包括第一子像素阵列、第二子像素阵列、和第三子像素阵列,其中所述第一子像素阵列、所述第二子像素阵列、和所述第三子像素阵列被设计为发射不同原色发射。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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