[发明专利]成膜方法、半导体发光元件的制造方法、半导体发光元件和照明装置有效
申请号: | 201480015032.7 | 申请日: | 2014-02-26 |
公开(公告)号: | CN105190842B | 公开(公告)日: | 2017-07-28 |
发明(设计)人: | 醍醐佳明 | 申请(专利权)人: | 佳能安内华股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/203 | 分类号: | H01L21/203;C23C14/06;H01L21/205;H01L33/32;C23C16/34 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 | 代理人: | 刘新宇,李茂家 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明的目的是提供一种高生产性的成膜技术,其通过由于大约2μm的厚度而具有非常良好的结晶性的底层来实现。本发明的一个实施方案涉及一种成膜方法,其具有以下步骤使用溅射法使缓冲层形成在由基板保持件保持的蓝宝石基板上,所述缓冲层设置有具有其中选自由C、Si、Ge、Mg、Zn、Mn和Cr组成的组的至少一种物质添加至AlxGa1‑xN(其中0≤x≤1)的纤锌矿结构的外延膜。 | ||
搜索关键词: | 方法 半导体 发光 元件 制造 照明 装置 | ||
【主权项】:
一种成膜方法,其特征在于,其包括以下步骤:在真空室中将蓝宝石基板安装在基板保持件上;通过将稀有气体和含氮的气体导入所述真空室中并且将电力供给至靶而在所述真空室中产生等离子体,所述靶通过将选自由C、Si、Ge、Mg、Zn、Mn和Cr组成的组中的至少一种物质以5原子%以下的浓度均一分散在Al金属和AlGa合金的至少一种中来制备;和在所述蓝宝石基板上通过使用等离子体的溅射法形成缓冲层,所述缓冲层包括通过将所述选自由C、Si、Ge、Mg、Zn、Mn和Cr组成的组的至少一种物质添加至AlxGa1‑xN来制备的具有纤锌矿结构的外延膜,其中0≤x≤1,其中形成缓冲层如下进行:所述选自由C、Si、Ge、Mg、Zn、Mn和Cr组成的组的至少一种物质进入所述纤锌矿结构的晶格间隙,并且所述选自由C、Si、Ge、Mg、Zn、Mn和Cr组成的组的至少一种物质不进入所述纤锌矿结构的晶格点。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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