[发明专利]检测系统有效

专利信息
申请号: 201480016932.3 申请日: 2014-03-18
公开(公告)号: CN105143862B 公开(公告)日: 2019-07-09
发明(设计)人: 格雷戈尔·皮茨科斯基;斯蒂芬·詹森;托马斯·爱莎 申请(专利权)人: 亨内克系统有限责任公司
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 鲁异
地址: 德国苏*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于就缺陷(20a、20b)尤其是在斜面或倾斜边缘上的缺陷来检测诸如晶片、太阳能电池或其中间阶段等的平面半导体物体(1)的检测方法,该检测方法包括以下步骤:在纵向传输方向(T)中沿传输路径(17)传输平面物体(1),传输运动界定平面物体(1)的前缘(4)和后缘(5),利用至少一个成像系统(8、9),优选为摄像机在平面物体(1)沿传输路径(17)的运动期间连续拍摄平面物体(1)的尤其是平面物体(1)的前部和/或后部的多个图像,从多个图像中选择图像数据,该图像数据是从在成像系统(8、9)景深内的平面物体(1)的目标点拍摄的,基本通过所选择的图像数据识别平面物体(1)的缺陷(20a、20b)。本发明还涉及用于检测平面半导体物体的检测系统。
搜索关键词: 检测 系统
【主权项】:
1.一种检测方法,其用于检测半导体平面物体(1)的边缘(4、5、6)上的缺陷(20a、20b),所述检测方法包括以下步骤:在传输方向(T)中沿传输路径(17)传输所述平面物体(1),传输运动界定所述平面物体(1)的前缘(4)和后缘(5),利用至少一个成像系统(8、9),在所述平面物体(1)沿所述传输路径(17)的运动期间,连续拍摄所述平面物体(1)的前部和/或后部的多个图像,从所述多个图像中选择图像数据,其中所述图像数据是从在所述成像系统(8、9)景深内的所述平面物体(1)的目标点拍摄的,通过所选择的图像数据识别所述平面物体(1)的边缘(4、5、6)上的缺陷(20a、20b)。
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