[发明专利]传感器装置、计测系统、及计测方法有效
| 申请号： | 201480018163.0 | 申请日： | 2014-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN105051502B | 公开（公告）日： | 2017-05-17 |
| 发明（设计）人： | 鲛岛裕;川端康大;尾崎智博;赤井亮太;长谷川照起 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | G01D21/00 | 分类号： | G01D21/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人： | 李辉,黄纶伟 |
| 地址： | 日本国京*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明中，当根据触发检测部(102)检测的触发用物理量的大小所设定的多个触发条件当中的、相对于恒常时的变动级别呈最低的触发条件得以满足时，控制部(101)将计测部(103)从非计测状态切换成计测状态并使其开始计测处理；在计测处理的执行过程中，相对于与执行中的计测处理相对应的触发条件而言，若有相对于恒常时的变动级别呈较高的触发条件得以满足，则控制部(101)中止执行中的计测处理且命令开始进行与变动级别高的上述触发条件相对应的计测处理。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器 装置 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种传感器装置，其特征在于：计测与构造物相关的计测对象物理量，且具备：计测部，计测上述计测对象物理量；触发检测部，检测触发用物理量；以及控制部，根据上述触发检测部检测的上述触发用物理量的检测结果来控制上述计测部的动作，当根据上述触发检测部检测的上述触发用物理量的大小所设定的多个触发条件中的规定触发条件得以满足时，上述控制部将上述计测部从非计测状态切换成计测状态并使上述计测部开始进行计测处理，上述控制部设定上述各触发条件的优先级，在上述计测处理的执行过程中，当优先级比与执行中的计测处理相对应的触发条件高的触发条件得以满足时，上述控制部中止执行中的计测处理且命令开始进行与优先级高的上述触发条件相对应的计测处理。
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