[发明专利]分析系统有效
| 申请号： | 201480020182.7 | 申请日： | 2014-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN105122051B | 公开（公告）日： | 2017-07-04 |
| 发明（设计）人： | 佐竹宏之;桥本雄一郎;管正男;长谷川英树 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司11243 | 代理人： | 范胜杰,文志 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 分析系统具备存储部，其存储使质谱分析结果信息和与离子迁移率分离有关的分析条件关联起来的第一信息；控制部，其将与某测定对象离子的质谱分析结果信息对应的上述第一信息的上述质谱分析结果信息所关联的上述分析条件决定为上述测定对象离子的第一分析条件。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 系统 | ||
【主权项】：
一种分析系统，其特征在于，具备：存储部，其存储使质谱分析结果信息和与离子迁移率分离有关的分析条件关联起来的第一信息；控制部，其将与某测定对象离子的质谱分析结果信息对应的上述第一信息的上述质谱分析结果信息所关联的上述分析条件决定为上述测定对象离子的第一分析条件，上述测定对象离子的质谱分析结果信息包含质量电荷比和电荷，上述存储部存储使质量电荷比和分离电压关联起来的第二信息，上述控制部将与上述测定对象离子的质量电荷比对应的上述第二信息的上述质量电荷比所关联的第一分离电压决定为上述第一分析条件。
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