[发明专利]用于检测样本内分析物的器件及方法有效

专利信息
申请号: 201480023212.X 申请日: 2014-04-04
公开(公告)号: CN105143852B 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: 柳承范;金银京;李东奎;吴尚勋;孙美进 申请(专利权)人: 秀根科技株式会社
主分类号: G01N21/00 分类号: G01N21/00;G01N21/01;G01N33/53
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李洋;青炜
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及用于检测样本内分析物的器件:其包括:(a)n个光源部,其包括产生光(light)的光源;(b)反应带,其包括(i)被照射(illumination)来自上述光源部的光并包括与上述分析物反应的物质的检查区域、(ⅱ)被照射来自上述光源部的光并包括对照物质的对照区域、以及(ⅲ)被照射来自上述光源部的光的背景区域,上述检查区域和背景区域被照射相同的一个光,上述对照区域和背景区域被照射相同的一个光,上述检查区域及对照区域共享上述背景区域;照射于上述检查区域和背景区域的光和照射于上述对照区域和背景区域的光相同或者不同;以及(c)最少n+1个受光部,其检测分别由上述反应带的检查区域、对照区域及背景区域发射(emitting)的光。
搜索关键词: 用于 检测 样本 分析 器件 方法
【主权项】:
1.一种用于检测样本内分析物的器件,包括:(a)n个光源部,其包括产生光的光源;(b)反应带,其包括(i)被照射来自所述光源部的光并包括与所述分析物反应的物质的检查区域、(ⅱ)被照射来自所述光源部的光并包括对照物质的对照区域、及(ⅲ)被照射来自所述光源部的光的背景区域,所述检查区域和背景区域被照射相同的一个光,所述对照区域和背景区域被照射相同的一个光,所述检查区域及对照区域共享所述背景区域,照射于所述检查区域和背景区域的光与照射于所述对照区域和背景区域的光以同等条件照射;以及(c)最少n+1个受光部,其检测分别由所述反应带的检查区域、对照区域及背景区域发射的光,并与所述检查区域、对照区域及背景区域分别以1:1对应地排列,其中,所述检查区域和背景区域共享所述n个光源部中的一个,而所述对照区域和背景区域共享所述n个光源部中的另一个,其中,所述检查区域为至少两个,所述至少两个检查区域中的一个检查区域和所述对照区域共享所述背景区域。
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