[发明专利]用于测量突出部的突出长度的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201480023676.0 申请日: 2014-04-18
公开(公告)号: CN105189059B 公开(公告)日: 2017-03-08
发明(设计)人: 竹内寿志 申请(专利权)人: 株式会社普利司通
主分类号: B26D5/34 分类号: B26D5/34;B26D3/00;B26D5/02;B29D30/46
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司11243 代理人: 张敬强,严星铁
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种方法和设备,其即使在嵌入片材中的帘线的位置改变时也能够测量在切割之后的片材的两侧上的多余片的突出量,该多余片突出量测量设备设置有成像装置,成像装置对包括多余片的片材的宽度方向上的剖面轮廓形状成像。设备产生剖面轮廓形状所成像的波形数据,在波形数据中检查波峰的最大高度位置和波谷的最小高度位置,基于波形数据将宽度方向上位于朝向片材的端部最远的、波峰的最大位置设为终端波峰的最大位置,将在宽度方向上比终端波谷的最大位置进一步朝向端部的、对应于片材的多余片的端部的位置设为终端波谷的最小位置,检查在终端波峰最大位置和终端波谷最小位置之间的宽度方向上的距离,并且基于所述距离测量多余片的突出量。
搜索关键词: 用于 测量 突出 长度 方法 设备
【主权项】:
一种用于测量突出部的突出长度的方法,突出部至少被形成在长的片材的一个宽度端部侧上,片材具有被嵌入其中的多个平行布置的帘线,所述方法包含:通过由成像装置在包括突出部的片材的宽度方向上对剖面轮廓成像来产生波形数据;检查波形数据的波峰的最大高度位置和波谷的最小高度位置;基于波形数据,将最靠近片材的宽度端部的波峰的最大高度位置设置为端部波峰的最大高度位置;将位于比端部波峰的最大高度位置更宽的端部侧的、对应于片材的突出部的边缘的位置设置为终端波谷的最小高度位置;检查在片材的宽度方向上的、在端部波峰的最大高度位置和终端波谷的最小高度位置之间的距离;以及基于检查的距离测量突出部的突出长度,计算参考位置,该参考位置是表示在宽度方向上距离端部波峰的最大高度位置的预定距离的参考,当突出长度超过参考位置时,使切割装置在减少突出长度的方向上移动,或者当突出长度达不到参考位置时,使切割装置在增加突出长度的方向上移动。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社普利司通,未经株式会社普利司通许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201480023676.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top