[发明专利]垂直存储器中的浮动栅极存储器单元有效
申请号: | 201480024450.2 | 申请日: | 2014-03-05 |
公开(公告)号: | CN105164808B | 公开(公告)日: | 2018-05-04 |
发明(设计)人: | 查尔斯·H·丹尼森;合田晃;约翰·霍普金斯;法蒂玛·雅逊·席赛克-艾吉;克里希纳·K·帕拉 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | H01L27/11556 | 分类号: | H01L27/11556;H01L27/11578;H01L21/28;H01L21/336 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司11287 | 代理人: | 路勇 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及垂直存储器中的浮动栅极存储器单元。控制栅极形成于第一电介质材料叠层与第二电介质材料叠层之间。浮动栅极形成于所述第一电介质材料叠层与所述第二电介质材料叠层之间,其中所述浮动栅极包含朝向所述控制栅极延伸的突出部。电荷阻挡结构形成于所述浮动栅极与所述控制栅极之间,其中所述电荷阻挡结构的至少一部分包覆所述突出部。 | ||
搜索关键词: | 垂直 存储器 中的 浮动 栅极 单元 | ||
【主权项】:
一种存储器单元,其包括:控制栅极,其在第一电介质材料叠层与第二电介质材料叠层之间;浮动栅极,其在所述第一电介质材料叠层与所述第二电介质材料叠层之间,其中所述浮动栅极包含朝向所述控制栅极延伸的突出部;及电荷阻挡结构,其在所述浮动栅极与所述控制栅极之间,其中所述电荷阻挡结构包含接触所述控制栅极的第一氧化物、接触所述浮动栅极的第二氧化物、以及所述第一氧化物和第二氧化物之间的氮化物,且其中所述第二氧化物包覆在所述浮动栅极的所述突出部周围。
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H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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