[发明专利]分析测试仪

摘要

本发明提供了一种便携式分析测试仪，该便携式分析测试仪被设计成与相关联的分析测试条一起使用。测试条接收模块接收所述分析测试条，并电连接至假负载校准电路块。该电路块被构造成提供假幅度校正和假相位校正；并且存储器块被构造成存储假幅度校正和假相位校正。校准与分析测试条一起使用的便携式分析测试仪的方法包括使用便携式分析测试仪的假负载校准电路块测定便携式分析测试仪的假幅度校正和假相位校正。假幅度校正和假相位校正存储在所述便携式分析测试仪的存储器块中。使用存储的假幅度校正和存储的假相位校正，测定分析物。

主权项

1.一种与相关联的分析测试条一起使用的便携式分析测试仪，所述便携式分析测试仪包括：a)适于接收所述分析测试条的测试条接收模块；b)电连接至所述测试条接收模块的假负载校准电路块；以及c)存储器块；d)其中所述假负载校准电路块被构造成提供假幅度校正和假相位校正；并且e)其中所述存储器块被构造成存储所述假幅度校正和所述假相位校正，其中所述分析测试条包括分析物室，并且其中：a1)所述测试条接收模块包括第一电连接器引脚和第二电连接器引脚；b1)所述假负载校准电路块包括：i)假负载，其具有选择的电特性；ii)激励源，其适于选择性地提供至少一个电信号；iii)解调器，其适于产生一个或多个解调信号；iv)处理器，其经连接以从所述解调器接收所述一个或多个解调信号；v)开关单元，其适于通过所述假负载或所述测试条接收模块的所述第一电连接器引脚和第二电连接器引脚选择性地将所述激励源电连接至所述解调器；并且c1)所述处理器被编程为：同时引起所述开关单元连接所述假负载，导致所述激励源提供DC信号，并记录所述解调信号的第一相应值；使用所述第一相应值测定所述解调器的偏置并将所测定的偏置存储在所述存储器块中；同时引起所述开关单元连接所述假负载，导致所述激励源同时提供AC信号和DC信号两者，并记录所述解调信号的第二相应值；使用所述第二相应值和所测定的所述解调器的偏置测定所述假幅度校正和所述假相位校正，并将所测定的假幅度校正和假相位校正存储在所述存储器块中；检测测试条是否插入在所述测试条接收模块中；同时引起所述开关单元连接所述第一电连接器引脚和第二电连接器引脚，导致所述激励源同时提供AC信号和DC信号两者，并在插入后，记录所述解调信号的第三相应值；并且使用所述第三相应值、所测定的假幅度校正和所测定的假相位校正、所测定的所述解调器的偏置来测定带测试条的所述便携式分析测试仪的相位和增益修改量，并将带测试条的所述便携式分析测试仪的所测定的相位和增益修改量存储在所述存储器块中。