[发明专利]均匀性测试系统及其利用方法

摘要

公开了一种器物(W、T、TW_NI、TW_I)测试系统(10)。该系统(10)包括：计算机资源(12)、器物旋转装置(14)、发光装置(16)和光接收装置(18)。器物旋转装置(14)旋转地支撑器物(W、T、TW_NI、TW_I)，并连通地耦合至计算机资源(12)，发光装置(16)连通地耦合至计算机资源(12)，光接收装置(18)联通地耦合至计算机资源(12)，器物旋转装置(14)和器物(W、T、TW_NI、TW_I)设置在发光装置(16)和光接收装置(18)之间，发光装置(16)和光接收装置(18)与器物旋转装置(14)和器物(W、T、TW_NI、TW_I)大致直线对齐，以便一旦启动发光装置(16)，由发光装置(16)发出的光指向器物(W、T、TW_NI、TW_I)和光接收装置(18)，从而光接收装置(18)捕捉发光装置(16)发出的光(L)的一部分(L₂)对应的图像以及至少一部分器物(W、T、TW_NI、TW_I)形成的阴影(L₁’)，对应于光(L)的另一部分(L₁)的阴影(L₁’)未被光接收装置(18)接收。光接收装置(18)发送捕捉的图像到计算机资源(12)，以便确定器物(W、T、TW_NI、TW_I)的均匀性或非均匀性。还公开了一种利用该系统(10)的方法(100)。还公开了一种计算机程序产品。

主权项

一种器物(W、T、TW_NI、TW_I)测试系统(10)，包括：计算机资源(12)；旋转地支撑器物(W、T、TW_NI、TW_I)的器物旋转装置(14)，其中所述器物旋转装置(14)连通地耦合至所述计算机资源(12)；连通地耦合至所述计算机资源(12)的发光装置(16)；以及连通地耦合至所述计算机资源(12)的光接收装置(18)，其中所述器物旋转装置(14)和所述器物(W、T、TW_NI、TW_I)设置在所述发光装置(16)和所述光接收装置(18)之间，其中所述发光装置(16)和所述光接收装置(18)与所述器物旋转装置(14)和所述器物(W、T、TW_NI、TW_I)大致直线对齐，以便一旦激活所述发光装置(16)时，由所述发光装置(16)发出的光都指向所述器物(W、T、TW_NI、TW_I)和所述光接收装置(18)，从而所述光接收装置(18)捕捉到与所述发光装置(16)发出的光(L)的一部分(L₂)对应的图像以及至少一部分所述器物(W、T、TW_NI、TW_I)形成的阴影(L₁’)，其中所述阴影(L₁’)与未被所述光接收装置(18)接收的光(L)的另一部分(L₁)对应，其中所述光接收装置(18)传送捕捉的图像到所述计算机资源(12)，以确定所述器物(W、T、TW_NI、TW_I)的均匀性或非均匀性。