[发明专利]封闭式X射线成像系统有效
| 申请号： | 201480027452.7 | 申请日： | 2014-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN105264362B | 公开（公告）日： | 2018-06-12 |
| 发明（设计）人： | K·苏祖基;D·希尔顿 | 申请（专利权）人： | 尼康计量公众有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王英;刘炳胜 |
| 地址： | 比利*** | 国省代码： | 比利时;BE |
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| 摘要： | 根据本公开，提供一种X射线成像系统，包括：X射线源；X射线探测器；样品底座，其用于将样品架置于在所述X射线源与所述X射线探测器之间的束路径中；封闭物，其至少将所述样品底座封闭在所述封闭物的内部；以及气候控制系统，其用于调节所述封闭物里面的气候，其中：所述封闭物具有孔径，其用于实现从所述封闭物外面对至少所述样品底座的访问；所述封闭物装备有门，所述门可在打开位置与关闭位置之间操作，在所述打开位置中所述孔径打开，在所述关闭位置中所述孔径被所述门关闭；并且所述气候控制系统可操作为提供在所述封闭物的所述内部与所述封闭物的外部之间的正压差，使得当所述门打开时，所述封闭物的所述内部被维持在比所述封闭物的所述外部更高的压力。这样的系统能够更好地调节所述封闭物里面的温度，即使是在所述门被打开时。 | ||
| 搜索关键词： | 封闭物 样品底座 气候控制系统 可操作 门打开 门关闭 样品架 正压差 封闭 外部 气候 访问 | ||
【主权项】：
一种X射线成像系统，包括：X射线源；X射线探测器；样品底座，其用于将样品架置于在所述X射线源与所述X射线探测器之间的射束路径中；封闭物，其至少将所述样品底座封闭在所述封闭物的内部；以及气候控制系统，其用于调节所述封闭物里面的气候，其中：所述封闭物具有孔径，所述孔径用于使得能够从所述封闭物外面对至少所述样品底座进行访问；所述封闭物被提供有门，所述门能在打开位置与关闭位置之间操作，在所述打开位置中所述孔径打开，在所述关闭位置中所述孔径被所述门关闭；并且所述气候控制系统能提供在所述封闭物的所述内部与所述封闭物的外部之间的正压差，使得当所述门打开时，所述封闭物的所述内部被维持在比所述封闭物的所述外部更高的压力，其中，所述气候控制系统被配置为探测在其中所述门打开的状况，并且被配置为在所述门打开时提供所述正压差。
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