[发明专利]使用VLF TD测量数据诊断电缆的状态并测量其剩余寿命的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201480027475.8 申请日: 2014-08-27
公开(公告)号: CN105579859B 公开(公告)日: 2019-04-02
发明(设计)人: 金圣民;金东燮;田时植;金炳硕;林暲燮 申请(专利权)人: 韩国电力公社;国立木浦海洋大学校
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12
代理公司: 北京坤瑞律师事务所 11494 代理人: 陈桉
地址: 韩国首*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 在此公开的是使用VLF TD测量数据诊断电缆的状态并且测量其剩余寿命并使用呈现电缆的状态的诊断的可再现性的3D矩阵来确定电缆的更换时间的装置和方法。根据本发明的诊断电缆的状态并且测量其剩余寿命的装置和方法包括威布尔建模单元、距离限制单元、数据类型分类单元、量化表示单元、归一化单元、3D构建单元、风险等级计算单元和剩余寿命测量单元。
搜索关键词: 使用 vlf td 测量 数据 诊断 电缆 状态 剩余 寿命 装置 方法
【主权项】:
1.一种用于诊断电缆的状态并且测量其剩余寿命的装置,包括:威布尔建模单元,其通过累计针对施加到电缆的多个电压等级中的每一个所测量出的VLF TD信号数据来执行威布尔分布建模,其中TD为tanδ;距离限制单元,其针对每个测量距离,将所累计的VLF TD信号数据的威布尔分布与所累计的VLF TD信号数据的预设威布尔分布进行比较,以限定测量限制距离;数据类型分类单元,其基于所限定的测量限制距离,针对每个类型对VLF TD信号数据进行分类;量化表示单元,其量化地表示所分类的类型;归一化单元,其将所述VLF TD信号数据和VLF TD信号偏差DTD以及从所述量化表示单元获取的VLF TD信号数据和偏差的斜率SKIRT表示为离散分布,并且对所述离散分布进行归一化,以获取归一化分布;3D构建单元,其以获取的归一化分布构建3D矩阵;风险等级计算单元,其基于所述3D矩阵中测量出的距离,将所述电缆的风险等级计算为各预设风险等级之一;以及寿命测量单元,其基于所述3D矩阵来测量所述电缆的剩余寿命,其中,根据基准故障概率、退化速度、边际率、余量率、故障可靠性等级以及故障确定时间,所述剩余寿命测量单元计算电缆更换工作的成本、基准故障概率、与故障密度匹配的位置中的至少任一个,以测量所述电缆的剩余寿命。
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