[发明专利]借助放大结构上的选择性沉积和结合的测定增强在审
| 申请号： | 201480028698.6 | 申请日： | 2014-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN105209884A | 公开（公告）日： | 2015-12-30 |
| 发明（设计）人： | S·Y·周 | 申请（专利权）人： | 普林斯顿大学理事会 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63;G01N21/27 |
| 代理公司： | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人： | 罗天乐 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本公开特别提供了用于增强与基片结合的分析物的检测的方法，所述基片包括在所述基片表面上的信号放大层，其中所述信号放大层包括高放大区域和低放大区域，并且其中所述高放大区域比所述低放大区域更多地放大所述表面上的信号。所述方法包括选择性地掩蔽所述基片的低放大区域，由此增加分析物与高放大区域结合并被检测到的概率。 | ||
| 搜索关键词： | 借助 放大 结构 选择性 沉积 结合 测定 增强 | ||
【主权项】：
一种增强对与基片结合的分析物的检测的方法，所述方法包括：(a)获得基片，所述基片包括位于该基片的表面上的信号放大层，其中该信号放大层包括高放大区域和低放大区域，且其中所述高放大区域比所述低放大区域更多地放大所述表面处的信号；(b)选择性地改性所述基片的低放大区域和/或高放大区域，由此增加分析物与高放大区域结合的概率和/或降低分析物与低放大区域结合的概率；由此改进检测所述分析物的灵敏度和/或其他感测特性。
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