[发明专利]一种确定非均匀介质的性质的方法在审
申请号: | 201480028970.0 | 申请日: | 2014-04-02 |
公开(公告)号: | CN105324662A | 公开(公告)日: | 2016-02-10 |
发明(设计)人: | 尼克拉斯·安德森 | 申请(专利权)人: | BTG仪器公司 |
主分类号: | G01N21/85 | 分类号: | G01N21/85;G01N15/02;G01N15/06;G01N33/00 |
代理公司: | 北京邦信阳专利商标代理有限公司 11012 | 代理人: | 尹吉伟 |
地址: | 瑞典*** | 国省代码: | 瑞典;SE |
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摘要: | 提供了一种确定运动中的非均匀介质的性质的方法,所述非均匀介质包含至少两相。所述介质由具有至少一种预设波长的光束照射,得到测量信号,所述信号代表检测到的离开所述介质的光,其中所述光束相对于性质有待确定的部分介质是小的。测量信号的带宽对于区分测量信号的时间周期是足够高的,所述测量信号的时间周期与性质有待确定的该部分介质相关。对于与性质有待确定的该部分介质相关的测量信号的时间周期,使用测量信号确定性质有待确定的这部分介质的性质,其中有待确定的性质通过数学计算、使用与性质有待确定的这部分介质相应的测量信号来确定。从而可检测单个部分介质的性质。 | ||
搜索关键词: | 一种 确定 均匀 介质 性质 方法 | ||
【主权项】:
一种确定包含至少两相的运动中的非均匀介质的性质的方法,所述方法包括以下步骤:‑用具有至少一个预设波长的光束照射所述介质,‑得到代表检测到的离开所述介质的光的测量信号,其中所述光束相对于性质有待确定的部分介质是小的,并且其中所述测量信号的带宽对于区分所述测量信号的时间周期是足够高的,所述测量信号的时间周期与所述性质有待确定的部分介质相关,以下述步骤为特征:‑对于与所述性质有待确定的部分介质相关的测量信号的时间周期,使用测量信号确定所述性质有待确定的部分介质的性质,并且‑其中有待确定的性质通过数学计算、使用与所述性质有待确定的部分介质相应的测量信号来确定。
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